SanDisk、「デジカメとメモリーカードはX線検査のダメージを受けない」という記事より。こういう調査結果はありがたいですね。

テストはニュージャージー州アトランティックシティのTSAセキュリティラボで、11月29日に行なわれた。画像が保存された様々なメーカーのSDメモリーカード、メモリースティック、メモリースティックPro、CF、スマートメディアを、実際に交通機関の設備で使用されているX線検査装置に繰り返しかけ、保存された画像と記録媒体に影響がないことを確認した。また、金属探知機による影響も、X線検査装置同様に認められなかった。